Micro-PLS系列顯微光致發光光譜儀

產品概述：

光致發光(Photoluminescence) 即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm 等）激發材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。光致發光可以提供有關材料的結構、成分及環境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關領域被廣泛應用。

傳統的顯微光致發光光譜儀都是采用標準的顯微鏡與熒光光譜儀的結合，但是傳統的顯微鏡在材料的PL 譜測量中，存在很大的局限性，比如無法靈活的選擇實驗所需的激光器（特別對于UV 波段的激光器，沒有足夠適用的配件），無法方便的與超低溫制冷機配合使用，采用光纖作為光收集裝置時耦合效率太低等等問題，都是采用標準顯微鏡難以回避的問題。

 性能特點：

■ 一體化的光學調校——整機設計，結構穩固，光路穩定，確保高效性和易用性

■ 超寬光譜范圍——200nm-2600nm

■ 視頻監視光路——通過監視器，查找微米級樣品，可供精確調整，定位測試樣品點

■ 多種激發波長可選——266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等

■ 熒光壽命測量功能可選——μs、ns、ps熒光壽命測量選項

■ 電致發光(EL)功能可選——擴展選項

■ 顯微拉曼光譜測量功能可選——擴展選項

■ 超低溫測量附件可選——可配置多種低溫樣品臺

系統組成：

● 激發光源部分：紫外-近紅外波段各種波長激光器

● 顯微光路部分：優化設計的專用型顯微光路

● 光譜采集部分：影像校正光譜和高靈敏型科學級CCD或單點探測器和數據采集器

● 樣品臺支架部分：xyz三維可調樣品臺（手動或自動）、超低溫樣品臺

?參數規格表：